Sacrestia Nuova di San Lorenzo, Firenze

La sacrestia_Michelangelo iniziò nel 1520 i lavori della Sagrestia Nuova nel San Lorenzo, concependo il fabbricato come un mausoleo posto in posizione speculare alla sagrestia brunelleschiana e dedicato ad alcuni membri della famiglia medicea: Lorenzo il Magnifico e il fratello Giuliano oltre a Lorenzo, Duca di Urbino e Giuliano, Duca di Nemours.
Nel 1525 Michelangelo annuncia al pontefice che la lanterna è completata mentre procedono a rilento i lavori per la realizzazione dei monumenti funebri, delle porte e delle finestre; dopo molte ipotesi di collocazione dei monumenti sepolcrali, solo alla ripresa dei lavori, nel 1531, sembra presa la decisione: addossare alle due pareti contrapposte i due monumenti ai due duchi ed a quella di accesso quelli relativi a Lorenzo e a Giuliano. Quando Michelangelo partì da Firenze, dopo la morte di Clemente VII nel 1534, il monumento dei Magnifici rimase incompleto.
 

Lo studio della lanterna_Tra le metodologie di indagine, si sono prese in considerazione anche una serie di risultati di alcune sperimentazioni che hanno riguardato il contributo ad una lettura critica dello stato di conservazione del bene monumentale mediante rilievo tridimensionale ad alta definizione; lo strumento, oltre alle coordinate x, y e z a definizione di ciascun punto rilevato, è in grado di rilevare anche un quarto dato: tale dato è il valore di rifl ettanza.
Il raggio di luce riflesso porta quindi con sé non solo un’informazione di tipo geometrico ma anche un’altra che potremmo definire materica.
Sulla base delle analisi a vista delle superfici, contemporaneamente alle operazioni di rilievo tridimensionale, sono state individuate le regioni omogenee per quanto riguarda materiale e stato conservativo, a cui associare una zona campione con dati spettrofotometrici e colorimetrici di riferimento, acquisiti con gli spettrofotometri Minolta CM 503i e Minolta CM-2600d.
Occorre notare che l’attenta analisi, sia qualitativa che quantitativa, delle curve di riflettanza ottenute con le indagini spettrofotometriche permette di ricavare molteplici informazioni sulle superfici, come i valori colorimetrici ed anche alcune caratteristiche dei materiali componenti, come trattamenti e patine superficiali, residui e tracce di coloriture.
L’esame critico dei dati ottenuti prevede un attento confronto con l’analisi fotografica a colori reali consentendo di ottenere una prima valutazione utile sulle caratteristiche dei materiali, sulla valutazione dello stato conservativo e sulle forme macroscopiche di degrado.