Slides del corso
- Introduzione al corso
- Introduzione alla design automation nei sistemi digitali
- Complessità degli algoritmi per EDA
- a.a. 2017-2018
- Strumenti per la manipolazione di funzioni booleane
- Introduzione a SIS e ABC
- Sintesi di reti multilivello
- corretti alcuni errori
- Technology mapping
- Introduzione al collaudo dei sistemi digitali (new)
- Defect based testing e modelli di guasto
- Bridging faults
- new
- Simulazione di guasto
- Introduzione alla test generation
- Algoritmi di test generation per circuiti combinatori
- ATPG per circuiti sequenziali
- DFT: scan-path design
- Delay faults
- Introduzione ai sistemi digitali fault tolerant
- Ridondanza hardware
- Sistemi self-checking
- DFT partial scan
