Materiale didattico
I testi di riferimento principali utilizzati per questo corso sono:
- Applied Reliability, Paul A. Tobias and David Trinidade, Chapman&Hall/CRC
- Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Milton Ohring, Academic Press
- Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, E.A. Amerasekera and D.S. Campbell, Wiley
Molte altre referenze specifiche si possono trovare online su:
- www.weibull.com
- ieexplore.org (Richiede un abbonamento)
- IEEE Reliability Society su rs.ieee.org
- IEEE Electron Device Society su eds.ieee.org
Le slides delle lezioni (ultimo aggiornamento - 23/02/2019) possono essere scaricate in questa pagina (previo accesso al proprio account UniFE):
Lecture 16 (non nel programma d'esame)
Qui potete scaricare il materiale per il tutorato di MATLAB e le slides dei seminari (previo accesso al proprio account UniFE):
